Ellipsometer Eksperimental LCP-25

Katrangan singkat:

Polarimeter elips manual nggunakake cara punah kanggo ngukur ketebalan lan indeks bias film, lan kanthi manual ngatur sudut panyimpangan lan panyimpangan proses tes. Ellipsometry digunakake ing pangukuran film tipis dielektrik ing substrat padhet. Ing cara ngukur kekandelan film, bisa diukur kanthi tliti sing paling tipis lan paling dhuwur.

Kirimi email kanggo kita

Detail Produk

Tag produk

Spesifikasi

Katrangan	Spesifikasi
Range Pengukuran Ketebalan	1 nm ~ 300 nm
Range saka Incident Angle	30º ~ 90º, Kasalahan ≤ 0.1º
Polarizer & Analyzer Intersection Sudut	0º ~ 180º
Disk Sudut Skala	2º saben skala
Min. Waosan Vernier	0.05º
Dhuwur Pusat Optik	152 mm
Diameter Tahap Kerja	Φ 50 mm
Sakabèhé Dimensi	730x230x290 mm
Bobot	Kira-kira 20 kg

Daftar Bagian

Katrangan	Qty
Unit Ellipsometer Kab	1
He-Ne Laser	1
Penguat fotolistrik	1
Sel Foto	1
Silika Film ing Silicon Substrat	1
Piranti Lunak Analisis CD	1
Instruksi Manual	1