LCP-27 Pangukuran Intensitas Difraksi

Katrangan Cekak:

Sistem eksperimen iki utamane kasusun saka sawetara bagean, kayata sumber cahya eksperimen, piring difraksi, perekam intensitas, piranti lunak komputer lan operasi. Liwat antarmuka komputer, asil eksperimen bisa digunakake minangka lampiran kanggo platform optik, lan uga bisa digunakake minangka eksperimen dhewe. Sistem iki nduweni sensor fotoelektrik kanggo ngukur intensitas cahya lan sensor perpindahan kanthi akurasi dhuwur. Penggaris kisi bisa ngukur perpindahan, lan ngukur distribusi intensitas difraksi kanthi akurat. Komputer ngontrol akuisisi lan pangolahan data, lan asil pangukuran bisa dibandhingake karo rumus teoretis.

Kirim email menyang kita

Rincian Produk

Tag Produk

Eksperimen

1. Tes difraksi celah tunggal, celah ganda, porous lan multi persegi panjang, hukum intensitas difraksi owah miturut kahanan eksperimen

2. Komputer digunakake kanggo ngrekam intensitas relatif lan distribusi intensitas saka celah tunggal, lan jembar difraksi celah tunggal digunakake kanggo ngetung jembar celah tunggal.

3. Kanggo mirsani distribusi intensitas difraksi celah ganda, bolongan persegi panjang, lan bolongan bunder

4. Kanggo mirsani difraksi Fraunhofer saka celah tunggal

5. Kanggo nemtokake distribusi intensitas cahya

Spesifikasi

Barang	Spesifikasi
Laser He-Ne	>1,5 mW @ 632,8 nm
Celah Tunggal	0 ~ 2 mm (bisa diatur) kanthi presisi 0,01 mm
Rentang Pangukuran Gambar	Ambane celah 0,03 mm, jarak celah 0,06 mm
Kisi Referensi Proyektif	Ambane celah 0,03 mm, jarak celah 0,06 mm
Sistem CCD	Ambane celah 0,03 mm, jarak celah 0,06 mm
Lensa makro	Fotosel silikon
Tegangan Daya AC	200 mm
Akurasi Pangukuran	± 0,01 mm